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产品名称: XP分析天平
产品型号: XP105DR/204R/205DR/504R/504DR
产品别称: 梅特勒分析天平 分析天平 精密天平
所属分类: 天平
产品简介: 当称量安全性是最优先的考虑因素时,XP 的安全特性可最大限度降低称量风险多种选件可创建完全定制的解决方案。高性能天平提供您日常所需的基本功能。 直接、易用、称量结果精确。这些天平表现卓越,可在您的实验室或工作场所提供快速、精确的结果。 功能齐全,易于清洁,经久耐用.

 

梅特勒XP系列分析天平主要特点:分析天平采用分离的称量单元和显示控制单元,分析天平避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

●XP系列分析天平
●XP系列分析天平天平校验功能(BalanceCheck),分析天平自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,分析天平确保称量结果始终准确
●GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保XP系列分析天平始终正确工作
●优化XP系列分析天平适应性的称量参数设置,分析天平满足不同称量环境要求
●XP系列分析天平完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现分析天平的快速清洁
●XP系列分析天平丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
●水平控制系统(LevelControl):XP系列分析天平在使用过程中或移动后偏离水平位置影响到称量结果的准确性时,分析天平控制系统会发出声音警告,并显示调整信息,分析天平准确地指导您调节分析天平恢复至水平位置。
●红外感应器(SmartSens):分析天平实现无需用手接触的分析天平操作:开关门、去皮、回零、打印。即使称量毒性或腐蚀性样品,您也一样安全无忧!

●专业级全自动校准技术(proFACT):XP系列分析天平实现温度漂移和用户时间设置触发的全自动内置砝码校正和线性校正。
● 梅特勒XP系列分析天平主要特点:XP分析天平采用分离的称量单元和显示控制单元,XP分析天平避免电子元件散热对称量结果准确性的影响,分析天平确保XP系列分析天平始终正确工作。


梅特勒 XP系列分析天平技术参数

XP分析天平型号

分析天平最大称量值

[g]

分析天平可读性

[mg]

分析天平重复性

(sd)[mg]

分析天平线性误差

[mg]

分析天平典型稳定时间

[s]

分析天平秤盘尺寸

(W×D)[mm]

分析天平XP105DR 31/120 0.01/0.1 0.0015/0.06 0.15 1.5 78×73
分析天平XP205 220 0.01 0.03 0.1 2.5 78×73
分析天平XP205DR 81/220 0.01/0.1 0.0015/0.06 0.15 1.5 78×73
分析天平XP204 220 0.1 0.007 0.2 1.5 78×73
分析天平XP504 520 0.1 0.12 0.4 1.5 78×73
分析天平XP504DR 101/520 0.1/1 0.1/0.6 0.5 1.5 78×73

 


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